6-9 Mar 1979, Φ Bad Nauheim, Deutsche Region der Internationalen Biometrischen Gesellschaft: 25. Biometrisches Kolloquium

6.-9.3.1979, Bad Nauheim, Deutsche Region der Internationalen Biometrischen Gesellschaft: 25. Biometrisches Kolloquium

Örtlicher Tagungsleiter: O. Ludwig, Bad Nauheim. Tagungsort: W.-G.-Kerckhoff-Institut, Parkstr. 1, Bad Nauheim. – Tagungsbesuch ohne eigenen Beitrag.

Aus dem Programm:

  • K. Streichfuss (Stuttgart-Hohenheim): Faktorenanalyseprogramme [Aus dem Abstract: … in BMD(P) und SPSS …]
  • P.O. Degens (München): Asymptotische Äquivalenz verschiedener bekannter Verfahren der hierarchischen Objektclusteranalyse
  • E. Bartschelt (Zürich): Die Verantwortlichkeit des Biometrikers bei der Gestaltung von Gestzen und Verordnungen [Aus dem Abstract: … vom Wissenschaftler erwartet man Verständnis für interdisziplinäre Arbeit, ein gesellschaftspolitisches Bewusstsein und eine ethische Haltung …]
  • R.J. Lorenz (Tübingen): Darf man ordinalskalierte Daten … parametrisch auswerten?
  • J. Wahrendorf (Heidelberg): Robuste Statistik: eine einführende Übersicht
  • U. Gather (Aachen): Über die Behandlung von Ausreißern
  • R.K. Bauer (Berlin): Neues von Susi O. [Aus dem Abstract: Susi O. ist das Original einer Klasse einfachster (“SUper-SImpler”) Modelle zur Beschreibung und zur Untersuchung komparativer symmetrischer Ähnlichkeitsstrukturen auf der Basis individueller Ähnlichkeitsurteile …]